спектрометр

Растровый электронный микроскоп с системой микроанализа:
Quanta Ispect


Растровый электронный микроскоп, разработанный для получения всей возможной микроскопической информации на любых образцах с высокой степенью автоматизации.

Технические характеристики

Технические характеристики растрового электронного микроскопа Quanta Inspect
Растровый электронный микроскоп, разработан для получения всей возможной микроскопической информации на любых образцах с высокой степенью автоматизации.

В базовый комплект микроскопа входят:

  • 50 мм, 4-осевой моторизованный столик
  • Управляющий компьютер и 17” ЖК монитор
  • Детекторы вторичных электронов для высокого вакуума (SED) и низкого вакуума (LF-GSED),
  • ИК ПЗС камера
  • Стол
  • Конусы-насадки (низкокиловольтные и для больших рабочих отрезков)

    Характеристики интегрированной системы энергодисперсионного микроанализа:
  • Детектор SiLi 138 eV. Окошко SATW
  • Авто идентификация пиков
  • Количественный анализ без стандартов
  • Возможность картирования
  • Возможность сканирования по линии
  • Управление колонной
  • Вспомогательный компьютер
  • Печатные руководства




  • Растровый сканирующий микроскоп Quanta Inspect

    Растровый сканирующий микроскоп Quanta Inspect
    о компании     |     новости    |     оборудование    |     партнеры    |     контакты
    Copyright. All Rights Reserved. ©  ETR SYSTEMS LTD.   2008